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Neuzugänge in der Werkstoffcharakterisierung (2) - Rasterelektronenmikroskop

Ein weiterer Neuzugang am LWK ist ein Rasterelektronenmikroskop vom TYP Zeiss Ultra Plus. Dieses Gerät erreicht bei einer Beschleunigungsspannung von 15.000V eine Auflösung im Bereich von einem Nanometer bzw. etwas darunter. 

Zusätzlich ist das Mikroskop mit einem EDX- und einem EBSD-System ausgestattet, sodass neben der Topographie der Probe auch die lokale chemische Zusammensetzung sowie die Art und Orientierung der vorliegenden Phasen untersucht werden können. In der Schadensforschung wird dieses Gerät häufig eingesetzt, um von der Topographie der Bruchfläche auf die Schadensursache schließen zu können. Hierbei steht nicht unbedingt das Auflösungsvermögen im Vordergrund, sondern die Fähigkeit, auch bei deutlich mehr als 1000-facher Vergrößerung, topographisch komplexe Oberflächen noch tiefenscharf abbilden zu können. 

Die Universität der Informationsgesellschaft