Mit der Neuanschaffung des 3D-Laserscanning-Mikroskops VK-X4050 von KEYENCE erweitern wir unsere Möglichkeiten zur hochauflösenden Charakterisierung und Vermessung technischer Oberflächen.
Das System kombiniert drei optische Messverfahren, nämlich die Laserkonfokalmikroskopie, die Weißlichtinterferometrie und die Fokusvariation. Je nach Beschaffenheit und Topografie der Probe kann so das jeweils geeignete Messprinzip eingesetzt werden. Dadurch lassen sich Oberflächen berührungslos und dreidimensional erfassen sowie hinsichtlich ihrer Topografie, Rauheit, Profile und geometrischen Merkmale quantitativ auswerten. Mit einer Gesamtvergrößerung von bis zu 28.800-fach können auch kleinste Oberflächenstrukturen untersucht werden.
Das VK-X4050 kommt in den Forschungsarbeiten des Lehrstuhls zur Charakterisierung umgeformter und spanend bearbeiteter Oberflächen zum Einsatz. Dazu zählen die Untersuchung von Blech- und Werkzeugoberflächen, Schnittflächen und Schneidkanten ebenso wie die Analyse tribologisch beanspruchter Oberflächen und auftretender Verschleißerscheinungen. Das Mikroskop ergänzt unsere bestehenden Prüf- und Analysemethoden und unterstützt die detaillierte Untersuchung der Zusammenhänge zwischen Prozess, Oberflächenzustand und Bauteileigenschaften. Weitere Informationen
