Transmissionselektronenmikroskop JEM-ARM200F

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Das Transmissionselektronenmikroskop wird von den beiden Arbeitsgruppen Lindner und Schaper (LWK) betreut.

  • Beschleunigungsspannung von 30 bis 200kV
  • Kalte Feldemmisionsquelle
  • Vergrößerung im TEM-Betrieb 50-2.000.000 fach
  • Vergrößerung im STEM-Betrieb 200-150.000.000 fach
  • Punktauflösung im TEM-Betrieb: unter 0,1nm
  • Um den Faktor 3000 höhere Auflösung, als mit momentanen Lichtmikroskopen möglich
  • NEOARM duales Kamera-System: Gatan OneView (4k x 4k) & Gatan US1000 (2k x 2k) Kameras
  • Probenbühne in X,Y und Z verstellbar, mit mechanischem Antrieb und Piezo-Antrieb

Anwendung:

Neben Abbildungen mit atomarer Auflösung und Beugungsbildern zur Bestimmung der Kristallstruktur und Morphologie können zudem die chemische Zusammensetzung, lokale Spannungsfelder, chemische Bindungsinformationen, optische Eigenschaften bestimmt sowie interne elektrische und magnetische Felder sichtbar gemacht werden.

Hinsichtlich ingenieurstechnischer Fragestellungen steht die Werkstoffcharakterisierung von Ausscheidungen und Carbide als auch die Untersuchung der Anbindungen von Kornfeinungsmitteln in die metallische Matrix im Vordergrund.